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解决方案 / 晶圆检测

iWave ZeroDefects

围绕您的检测目标构建的视觉 AI。

了解检测工作流

围绕您的检测任务构建模型集成,并将其结果连接到工艺中使用的晶圆图、KLARF 文件和应用。

了解实际应用。

晶圆盒检测 装配与包装验证
视觉相机在半导体设备内部观测晶圆。
设备端视觉检测

从图像到决策

看清细节,读懂缺陷。

检测图像承载着证据。ZeroDefects 围绕您需要识别的缺陷整合模型,并将结果接入您的检测工作流程。

检测图像样本 · 缺陷定义 · 应用需求

  1. 定义预期结果

    上传检测数据样本并说明其含义。描述缺陷分类的预期结果以及结果的用途。

  2. 设计模型集成

    Builder Agents 围绕这一目标创建模型集成,并设定其中各流水线模型的贡献权重。

  3. 训练、验证和测试

    部署前让模型集成经过 MLOps 生命周期。项目将数据流水线、模型、存储库和部署环节整合在一起。

  4. 连接应用

    通过 APIs 支持推理和已存储结果、自学习功能、晶圆图更新以及 KLARF 集成。

示意性工作流。评估应针对具体的检测任务、数据集和预期用途进行。

AI 可扩展性 / Builder Agents

新的检测目标,适配的模型集成。

从已知缺陷分类转向陌生缺陷筛查时,所需证据、模型组成和贡献权重都会改变。Builder Agents 定制这一设计;调整后的模型集成还需单独经过训练、验证和测试。

了解模型集成如何适应变化

凭借您的专业经验,开启新的可能。

让 AI 在您的设备运行发挥作用。