Lösungen / Waferinspektion
iWave ZeroDefectsVision AI, abgestimmt auf Ihre Inspektionsziele.
Erstellen Sie ein Ensemble für Ihre Inspektionsaufgabe. Binden Sie seine Ergebnisse an die Wafer-Maps, KLARF-Dateien und Anwendungen an, die Ihr Prozess nutzt.
Vom Bild zur Entscheidung
Details erkennen. Defekte verstehen.
Inspektionsbilder liefern die Belege. ZeroDefects führt Modelle für die Defekte zusammen, die Sie erkennen müssen, und bindet die Ergebnisse anschließend in Ihren Inspektionsablauf ein.
Beispielbilder aus der Inspektion · Defektdefinitionen · Anwendungsanforderungen
Ergebnis definieren
Laden Sie Beispiel-Inspektionsdaten hoch und erläutern Sie, was sie darstellen. Beschreiben Sie das gewünschte Ergebnis der Defektklassifizierung und wie die Ergebnisse verwendet werden sollen.
Ensemble entwerfen
Builder Agents erstellen das Ensemble und legen den Beitrag seiner einzelnen Pipeline-Modelle entsprechend diesem Ziel fest.
Trainieren, validieren und testen
Das Ensemble vor der Bereitstellung durch den MLOps-Lebenszyklus führen. Das Projekt vereint Datenpipeline, Modell, Repository und Bereitstellung.
Anwendung anbinden
APIs für Inferenz und gespeicherte Ergebnisse, selbstlernende Funktionen, Wafer-Map-Aktualisierungen und die KLARF-Integration nutzen.
Beispielhafter Workflow. Die Bewertung bezieht sich auf die jeweilige Inspektionsaufgabe, den Datensatz und den vorgesehenen Einsatz.
KI-Skalierbarkeit / Builder Agents
Neue Inspektionsziele. Ein angepasstes Ensemble.
Der Wechsel von der Klassifizierung bekannter Defekte zur Prüfung auf unbekannte Defekte verändert die Datengrundlage, die Modellzusammensetzung und die Gewichtung der Modellbeiträge. Builder Agents passen dieses Design an; das angepasste Ensemble durchläuft ein eigenes Training sowie eine eigene Validierung und Testphase.
Erfahren Sie, wie sich das Ensemble anpasstIhre Expertise. Neue Möglichkeiten.