Innowave Tech
開始對話
繁體中文
選單

探索 Innowave Tech

開始對話

解決方案/ 晶圓檢測

iWave ZeroDefects

圍繞您的檢測目標打造視覺 AI。

了解檢測工作流程

圍繞您的檢測任務建立集成模型,並將其結果連接至製程使用的晶圓圖、KLARF 檔案及應用程式。

看看實際如何運作。

晶圓匣檢測 組裝與包裝驗證
視覺攝影機觀察半導體設備內的晶圓。
設備端視覺檢測

從影像到決策

看清細節,理解缺陷。

檢測影像承載著證據。ZeroDefects 整合模型,聚焦於您需要辨識的缺陷,再將結果連結至您的檢測工作流程。

檢測影像樣本 · 缺陷定義 · 應用需求

  1. 界定預期成果

    上傳檢測資料樣本,並說明資料代表的內容。描述缺陷分類的預期成果及結果的用途。

  2. 設計集成模型

    Builder Agents 依據該目標建立集成模型,並設定其中各個管線模型的貢獻程度。

  3. 訓練、驗證及測試

    部署前,讓集成模型完成 MLOps 生命週期。專案整合其資料管線、模型、儲存庫及部署作業。

  4. 連接應用程式

    透過 APIs 執行推論及存取儲存結果、使用自我學習功能、更新晶圓圖,並整合 KLARF。

工作流程僅供示意。評估須針對特定檢測任務、資料集及預定用途進行。

AI 可擴展性/Builder Agents

新的檢測目標,對應調整後的集成模型。

從已知缺陷分類轉向陌生缺陷篩查,所需的依據、模型組合及各模型的貢獻權重都會改變。Builder Agents 會按需調整設計;調整後的集成模型須另行完成訓練、驗證及測試。

了解集成模型如何調整

發揮您的專業,開創嶄新可能。

讓 AI 在您的營運發揮效用。